Интеграционное тестирование
Интеграционное тестирование - это тестирование части системы, состоящей из двух и более модулей. Основная задача интеграционного тестирования - поиск дефектов, связанных с ошибками в реализации и интерпретации интерфейсного взаимодействия между модулями.
С технологической точки зрения интеграционное тестирование является количественным развитием модульного, поскольку так же, как и модульное тестирование, оперирует интерфейсами модулей и подсистем и требует создания тестового окружения, включая заглушки (Stub) на месте отсутствующих модулей. Основная разница между модульным и интеграционным тестированием состоит в целях, то есть в типах обнаруживаемых дефектов, которые, в свою очередь, определяют стратегию выбора входных данных и методов анализа. В частности, на уровне интеграционного тестирования часто применяются методы, связанные с покрытием интерфейсов, например, вызовов функций или методов, или анализ использования интерфейсных объектов, таких как глобальные ресурсы, средства коммуникаций, предоставляемых операционной системой.
Рис. 5.1. Пример структуры комплекса программ
На Рис. 5.1 приведена структура комплекса программ K, состоящего из оттестированных на этапе модульного тестирования модулей M1, M2, M11, M12, M21, M22. Задача, решаемая методом интеграционного тестирования, - тестирование межмодульных связей, реализующихся при исполнении программного обеспечения комплекса K. Интеграционное тестирование использует модель "белого ящика" на модульном уровне. Поскольку тестировщику текст программы известен с детальностью до вызова всех модулей, входящих в тестируемый комплекс, применение структурных критериев на данном этапе возможно и оправдано.
Интеграционное тестирование применяется на этапе сборки модульно оттестированных модулей в единый комплекс. Известны два метода сборки модулей:
- Монолитный, характеризующийся одновременным объединением всех модулей в тестируемый комплекс
- Инкрементальный, характеризующийся пошаговым (помодульным) наращиванием комплекса программ с пошаговым тестированием собираемого комплекса.
В инкрементальном методе выделяют две стратегии добавления модулей:- "Сверху вниз" и соответствующее ему восходящее тестирование.
- "Снизу вверх" и соответственно нисходящее тестирование.
Сравнение монолитного и интегрального подхода дает следующее:
- Монолитное тестирование требует больших трудозатрат, связанных с дополнительной разработкой драйверов и заглушек и со сложностью идентификации ошибок, проявляющихся в пространстве собранного кода.
- Пошаговое тестирование связано с меньшей трудоемкостью идентификации ошибок за счет постепенного наращивания объема тестируемого кода и соответственно локализации добавленной области тестируемого кода.
- Монолитное тестирование предоставляет большие возможности распараллеливания работ особенно на начальной фазе тестирования.
Например, порядок тестирования комплекса K (Рис. 5.1) при нисходящем тестировании может быть таким, как показано в примере 5.3, где тестовый набор, разработанный для модуля Mi, обозначен как XYi = (X, Y)i
1) K->XYK 2) M1->XY1 3) M11->XY11 4) M2->XY2 5) M22->XY22 6) M21->XY21 7) M12->XY12 Пример 5.3. Возможный порядок тестов при нисходящем тестированииНедостатки нисходящего тестирования:
- Проблема разработки достаточно "интеллектуальных" заглушек, т.е. заглушек, способных к использованию при моделировании различных режимов работы комплекса, необходимых для тестирования
- Сложность организации и разработки среды для реализации исполнения модулей в нужной последовательности
- Параллельная разработка модулей верхних и нижних уровней приводит к не всегда эффективной реализации модулей из-за подстройки (специализации) еще не тестированных модулей нижних уровней к уже оттестированным модулям верхних уровней
Например, порядок тестирования комплекса K (Рис. 5.1) при восходящем тестировании может быть следующим (пример. 5.4).
1) M11->XY11 2) M12->XY12 3) M1->XY1 4) M21->XY21 5) M2(M21, Stub(M22))->XY2 6) K(M1, M2(M21, Stub(M22)) ->XYK 7) M22->XY22 8) M2->XY2 9) K->XYK Пример 5.4. Возможный порядок тестов при восходящем тестированииНедостатки восходящего тестирования:
- Запаздывание проверки концептуальных особенностей тестируемого комплекса
- Необходимость в разработке и использовании драйверов